报告题目：原位同步辐射X-射线谱学表征方法研究薄膜材料的构性关系
报告人：张静（研究员）
报告时间：12月6日（周五）14:00
报告地点：启翔楼233会议室
邀请人：陈永华教授
承办学院：柔性电子研究院
报告简介：
在当今的材料科学研究中,人们越来越多地应用到同步辐射表征技术。采用X-射线吸收光谱研究材料中目标元素的局域配位环境和相应的电子结构特性;采用X-射线衍射研究材料中晶体结构;采用同步辐射小角散射研究材料的粒度分布、粒子形状、界面层特性和分形聚集状态等。这些表征方法等因其在复杂体系研究中的重要性,近年来被广泛应用于薄膜材料的研究中。这里,以北京同步辐射装置平台为例,我们借助于同步辐射光源、表面界面表征技术、原位测量技术以及丰富的样品环境室,揭示薄膜样品的晶体结构、局域结构和电子结构演变。通过理解薄膜奇异光电性能的结构起源；薄膜材料的生长动力学过程以及薄膜表界面元素的迁移转化过程等，推进新能源和新材料的发展。
报告人简介：
张静，女，1967年12月出生，研究员， 博士生导师，中科院高能物理研究所北京同步辐射X-射线吸收谱学线站负责人,曾在日本東北大学多元物質科学研究所任科学技術振興研究員以及日本東北大学国际先端科学中心的日本学术振興会(JSPS)访问教授。目前的研究方向是同步辐射新技术及应用于新材料的结构研究，以第一作者发表在ADV MATER, NANOLETTER, PRB等SCI论文十多篇，国家发明专利数项,合作学术论文百余篇。先后主持多项国家自然科学基金、中国科学院等多项课题。发展原位样品环境室和时间-空间分辨同步辐射X射线吸收谱（XAFS）探测方法研究新型纳米材料的生长机制;原位同步辐射X射线吸收谱（XAFS）技术、X射线衍射(XRD)技术和小角X射线散射（SAXS）技术研究有机-无机杂合钙钛矿薄膜的结构与失效性的关联。
